电压检测与复位IC

电压检测与复位IC

电压检测与复位IC

产品选型表

CXDR75128 CXDR75129

输出模式:

输入电压:0.8~5.5V

检测电压:2.5~4.6V

功耗:14

复位时间:

复位电平:高电平和低电平

精度:±1%

输出电流:10mA

输出形式:CMOS

延迟时间:140

封装:SOT-23-5/SOT-23-5

说明:

展开

CXDR75128 CXDR75129

CXDR75126 CXDR75127

输出模式:

输入电压:2.7~5.5V

检测电压:Individual Set

功耗:12

复位时间:

复位电平:高电平和低电平

精度:±1%

输出电流:10mA

输出形式:CMOS

延迟时间:140

封装:SOT-23-5/SC-70-5/FN1.6X1.6-6/DFN1.5X1.5-6

说明:

展开

CXDR75126 CXDR75127

CXDR75124 CXDR75125

输出模式:

输入电压:1~5.5V

检测电压:2.6~4.6V

功耗:14

复位时间:

复位电平:高电平和低电平

精度:±1%

输出电流:10mA

输出形式:CMOS

延迟时间:140

封装:SOT-23-6/DFN1.5X1.5-6

说明:

展开

CXDR75124 CXDR75125

CXDR75122 CXDR75123

输出模式:

输入电压:0.8~5.5V

检测电压:2.0/2.2/2.4

功耗:35

复位时间:

复位电平:高电平和低电平

精度:±1%

输出电流:10mA

输出形式:CMOS

延迟时间:140

封装:SOT-23-5/DFN2X2-6

说明:

展开

CXDR75122 CXDR75123

CXDR75120 CXDR75121

输出模式:

输入电压:0.8~5.5V

检测电压:2.2/3.7

功耗:29

复位时间:

复位电平:高电平和低电平

精度:±1%

输出电流:10mA

输出形式:CMOS

延迟时间:140

封装:TSOT-23-5

说明:

展开

CXDR75120 CXDR75121

CXDR75119

输出模式:

输入电压:2.2~5.5V

检测电压:0.8V

功耗:4

复位时间:

复位电平:高电平和低电平

精度:±1%

输出电流:10mA

输出形式:CMOS

延迟时间:140

封装:ADFN1.5X1.5-6

说明:

展开

CXDR75117 CXDR75118

输出模式:

输入电压:1~5.5V

检测电压:2.63~4.63V

功耗:14

复位时间:

复位电平:高电平和低电平

精度:±1%

输出电流:10mA

输出形式:CMOS

延迟时间:230

封装:SOT-23-5/燬C-70-5/SOT-143

说明:

展开

CXDR75117 CXDR75118

CXDR75115 CXDR75116

输出模式:

输入电压:1~5.5V

检测电压:2.63~4.63V

功耗:10

复位时间:

复位电平:高电平和低电平

精度:±1%

输出电流:10mA

输出形式:CMOS

延迟时间:140

封装:SOT-23/SC-70-3

说明:

展开

CXDR75115 CXDR75116

CXDR75113/4

输出模式:

输入电压:2.7~5.5V

检测电压:Individual Set

功耗:18

复位时间:

复位电平:高电平和低电平

精度:±1%

输出电流:10mA

输出形式:CMOS

延迟时间:200

封装:SOT-23-5

说明:

展开

CXDR75111 CXDR75112

输出模式:

输入电压:2.5~5.5V

检测电压:Individual Set

功耗:4

复位时间:

复位电平:高电平和低电平

精度:±1%

输出电流:10mA

输出形式:CMOS

延迟时间:140

封装:SOT-23-5

说明:

展开

CXDR75111 CXDR75112

CXDR75110

输出模式:

输入电压:1~5.5V

检测电压:2.3/2.5

功耗:3.3

复位时间:

复位电平:高电平和低电平

精度:±1%

输出电流:10mA

输出形式:CMOS

延迟时间:0.06

封装:SC-70-4/SC-82/燬OT-343

说明:

展开

CXDR75108 CXDR75109

输出模式:

输入电压:1~5.5V

检测电压:2.6~4.3V

功耗:16.5

复位时间:

复位电平:高电平和低电平

精度:±1%

输出电流:10mA

输出形式:CMOS

延迟时间:2

封装:SOT-23/SC-70-3/燭O-92/SOT-89

说明:

展开

CXDR75108 CXDR75109

CXDR75107

输出模式:

输入电压:1.1~5.5V

检测电压:2.25~4.55V

功耗:10

复位时间:

复位电平:高电平和低电平

精度:±1%

输出电流:10mA

输出形式:CMOS

延迟时间:200

封装:SOT-23-5

说明:

展开

CXDR75104 CXDR75105 CXDR75106

输出模式:

输入电压:1.1~5.5V

检测电压:2.25~4.55V

功耗:10

复位时间:

复位电平:高电平和低电平

精度:±1%

输出电流:10mA

输出形式:CMOS

延迟时间:200

封装:SOT-23-5

说明:

展开

CXDR75104 CXDR75105 CXDR75106

CXDR75103

输出模式:

输入电压:1~5.5V

检测电压:3/3.3/5

功耗:10

复位时间:

复位电平:高电平和低电平

精度:±1%

输出电流:10mA

输出形式:CMOS

延迟时间:360

封装:SOT-143

说明:

展开

CXDR75101/2

输出模式:

输入电压:1~5.5V

检测电压:2.93

功耗:9

复位时间:

复位电平:高电平和低电平

精度:±1%

输出电流:10mA

输出形式:CMOS

延迟时间:360

封装:SOT-23

说明:

展开

CXDR75100

输出模式:

输入电压:1~5.5V

检测电压:2.32~4.63V

功耗:13uA

复位时间:

复位电平:高电平和低电平

精度:±1%

输出电流:10mA

输出形式:CMOS

延迟时间:240ms

封装:SOT-143 SOT-23-5

说明:

展开

CXDR7599

输出模式:

输入电压:1~5.5V

检测电压:1.63~4.63V

功耗:13uA

复位时间:

复位电平:高电平和低电平

精度:±1%

输出电流:10mA

输出形式:CMOS

延迟时间:240ms

封装:SOT-143 SOT-23-5

说明:

展开

CXDR7598

输出模式:

输入电压:1~5.5V

检测电压:1.63~4.63V

功耗:13uA

复位时间:

复位电平:高电平和低电平

精度:±1%

输出电流:10mA

输出形式:CMOS

延迟时间:240ms

封装:SOT-23-3 SOT-23

说明:

展开

CXDR7597

输出模式:

输入电压:1~5.5V

检测电压:1.63~4.63V

功耗:13uA

复位时间:

复位电平:高电平和低电平

精度:±1%

输出电流:10mA

输出形式:CMOS

延迟时间:240ms

封装:SOT-23-3 SOT-23

说明:

展开

CXDR7596

输出模式:

输入电压:1~5.5V

检测电压:1.63~2.93V

功耗:3uA

复位时间:

复位电平:高电平和低电平

精度:±1%

输出电流:10mA

输出形式:CMOS

延迟时间:Programmable

封装:SOT-23-5

说明:

展开

CXDR7595

输出模式:

输入电压:1~5.5V

检测电压:1.63~4.63V

功耗:13uA

复位时间:

复位电平:高电平和低电平

精度:±1%

输出电流:10mA

输出形式:CMOS

延迟时间:240ms

封装:SOT-23-3 SOT-23

说明:

展开

CXDR7594

输出模式:

输入电压:1~5.5V

检测电压:1.63~2.93V

功耗:3uA

复位时间:

复位电平:高电平和低电平

精度:±1%

输出电流:10mA

输出形式:CMOS

延迟时间:Programmable

封装:SC70-4(R) SOT-143

说明:

展开

CXDR7593

输出模式:

输入电压:1~5.5V

检测电压:1.63~2.93V

功耗:3uA

复位时间:

复位电平:高电平和低电平

精度:±1%

输出电流:10mA

输出形式:CMOS

延迟时间:Programmable

封装:SOT-23-5

说明:

展开

CXDR7592

输出模式:

输入电压:1~5.5V

检测电压:2.63~4.65V

功耗:20uA

复位时间:

复位电平:高电平和低电平

精度:±1%

输出电流:10mA

输出形式:CMOS

延迟时间:200ms

封装:SOIC-8

说明:

展开

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